САПР поддерживает ВЧ печатные платы, многослойные структуры и модули, кремниевые ВЧ ИС и предлагает новые функции, обеспечивающие лучшее в отрасли схемотехническое, электромагнитное и электротермическое моделирование

Ключевые нововведения:

• Более эффективная проработка топологии, дополнительные функции, повышающие производительность проектирования ИС, многослойных структур и ВЧ печатных плат
• Новые функции схемотехнического и электромагнитного моделирования
• Повышение производительности проектирования за счёт интеграции в процесс разработки функций анализа целостности сигналов и цепей питания, применения новых технологий и других усовершенствований

• Первый компактный внутрисхемный тестер (Mini ICT) U9403A по цене от 30 тыс.долларов за систему на 250 тестовых точек в форм-факторе 5U для монтажа в стандартную стойку.
•  Новейшая и самая компактная версия внутрисхемного тестера i3070 серии 5i
• Новое типовое решение для контроля электронных систем автомобилей TS-8989.

Новый многоканальный тестер коэффициента битовых ошибок M8030A ускоряет разработку и тестирование высокоскоростных цифровых устройств

Ключевые нововведения:

• 10-канальный тестер коэффициента битовых ошибок поддерживает скорости до 16 Гбит/с и любые комбинации генератора кодовых последовательностей и анализатора каналов, что обеспечивает максимальную гибкость
• В каждом канале генератора можно индивидуально настраивать задержку, джиттер, предыскажения, межсимвольные помехи и структуру кодовой последовательности
• Программное обеспечение M8070A позволяет легко измерять параметры до 10 каналов тестера коэффициента битовых ошибок одновременно, включая эмуляцию потерь в канале

Программные опции поддерживают базовые функции подачи напряжения, а также полные измерения параметров полупроводниковых приборов и материалов

Ключевые нововведения:

· Пользователи источников питания/измерителей могут выбрать необходимое программное обеспечение в соответствии со своими потребностями

· Предлагается по доступной цене или бесплатно

· Сокращается время разработки и измерения